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【48812】惠然微电子全自主研制半导体要害尺度量测设备CD-SEM出机
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来源:开云全站app    发布时间:2024-07-23 15:32:33

  、刻蚀机、薄膜堆积和量检测设备被誉为四大中心设备。其间,量检测设备在保证质量、进步出产功率方面扮演着无足轻重的人物。可是,目前我国的DUV、EUV光刻机和电子束量检测设备在自主可控度上仍面对“高风险”和“难以掩盖”的应战。

  惠然微电子正是针对这一职业痛点,活跃引入国内外高精尖中心技能人才,聚力攻坚克难。公司坚持自主立异,投入许多研制资源,经过不懈的尽力,总算成功研制出首台全自主研制的CD-SEM设备。

  这一效果不只显示了惠然微电子在半导体量查验测验范畴的实力,也为我国半导体工业的开展注入了新的动力。经过完成半导体要害尺度量测设备的国产化,惠然微电子为我国半导体工业的自主可控供给了有力支撑,降低了对进口设备的依靠,进步了整个工业链的稳定性和安全性。

  展望未来,惠然微电子将不断的进步产品功能和技能水平,为我国半导体工业的开展奉献更多力气。一起,公司也等待与更多业界同仁携手协作,一起推进我国半导体工业迈向新的高度。

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  通线! /

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